可見光-短波焦平面測試設(shè)備VIT 測試系統(tǒng)是一個(gè)可擴(kuò)展的用于測試硅成像探測器，黑硅成像探測器以及InGaAs 成像探測器的測試系統(tǒng)，本套測試系統(tǒng)由以下五部分組成： a） 標(biāo)定的可調(diào)節(jié)亮度及光譜的光源; b） 高精度圖像投影系統(tǒng)； c） 成像探測器電子控制器； d） 圖像采集卡； e） 圖像分析軟件；
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夜視設(shè)備測試設(shè)備NV系列高技術(shù)測試系統(tǒng)支持夜視設(shè)備的專業(yè)化測試評估。如下圖所示，一系列9種測試系統(tǒng)（NVT，NV14，NVS，N20，N2D，NCLIP，NIG，NICOM以及NIMAX） 支持市場上所有夜視設(shè)備的測試，NV系列測試設(shè)備可以分為兩組：A）非計(jì)算機(jī)控制測試系統(tǒng)；B）計(jì)算機(jī)控制測試系統(tǒng)。
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激光測試設(shè)備L64 測試系統(tǒng)是一套激光光斑投影機(jī)構(gòu)，用于模擬被測試的激光接收器接收一個(gè)工作在1064nm 的發(fā)射光斑/ 反射激光脈沖輻射。峰值功率，激光脈沖的時(shí)間參數(shù)，被模擬激光光斑的角尺寸可以在寬范圍內(nèi)的調(diào)節(jié)。
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融合多傳感器電子相機(jī)測試系統(tǒng)FCLIP是一套計(jì)算機(jī)控制的測試系統(tǒng)，適用于測試融合圖像夾，F(xiàn)CLIP 測試系統(tǒng)支持測試四個(gè)對準(zhǔn)參數(shù)以校正圖像位移偏差。
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軸對準(zhǔn)測試設(shè)備高效的測試系統(tǒng)用于多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)（紅外熱像儀，電視相機(jī)，短波紅外相機(jī)，激光測距機(jī)，激光指示器）的軸對準(zhǔn)以及基本參數(shù)測試。集成了黑體與可見光/近紅外的光源用于生成被測紅外熱像儀，可見光設(shè)備，電視相機(jī)（線陣電視相機(jī)）以及短波紅外相機(jī)所探測的輻射。
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像增強(qiáng)器測試設(shè)備$n測量現(xiàn)代像增強(qiáng)器不是一個(gè)簡單的任務(wù)。MIL 系列標(biāo)準(zhǔn)建議要測量35 個(gè)參數(shù)來表征一個(gè)像管的性能。這$n些參數(shù)可以概括地分成如下四類：$nA. 光度學(xué)參數(shù)（Photometric）$nB. 成像質(zhì)量參數(shù)$nC. 可靠性參數(shù)$nD. 時(shí)間響應(yīng)參數(shù)（Temporal）
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